更新時(shí)間：2024-04-03 訪(fǎng)問(wèn)次數：1686
YAMADA山田光學(xué)YP-150I YP-250I鹵素燈光源裝置宏観観察用的照明設備，可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板制品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。YP-150I對應檢查6寸半導體晶片YP-150I照度范圍φ30YP-250I可對應檢查8英寸半導體晶片YP-250I照度范圍φ60YP-250I鹵素燈通風(fēng)機可選擇螺旋式風(fēng)扇或者管道通風(fēng)型根據具體要求可以選擇黃光和白
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應用領(lǐng)域 | 建材,電子,汽車(chē),電氣,綜合 |
YAMADA山田光學(xué)YP-150I YP-250I鹵素燈光源 |
| 宏観観察用的照明設備，可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板制品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 |
| 產(chǎn) 品 簡(jiǎn) 介 |
| YP-150I對應檢查6寸半導體晶片 |
| YP-150I照度范圍φ30 |
| YP-250I可對應檢查8英寸半導體晶片 |
| YP-250I照度范圍φ60 |
| YP-250I鹵素燈通風(fēng)機可選擇螺旋式風(fēng)扇或者管道通風(fēng)型 |
| 根據具體要求可以選擇黃光和白光兩種光源 |
| 可檢測各種缺陷 如硅片 砷化鎵 碳化硅等半導體晶片及液晶基板表面的異物/劃痕 /拋光不均 / |
| 霧狀/ 劃傷等 ，照度在400000Lx以上 |
| 產(chǎn) 品 特 點(diǎn) |
| 1. 大于 400,000luxes的照明光線(xiàn)可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia). |
| 2. 使用鹵素燈作為光源，色溫高達3400K，照光和顏色均一了穩定強光的照射。 |
| 3. 由于冷鏡的使用，使得熱影響與常規鋁鏡相比較少1/2 到 1/3 |
| 4. 光束直徑由鏡片調整30-50mm 之間調整 |
| 5. 底部開(kāi)光，調整照明勘察器高度，操作簡(jiǎn)便，可控制光量 |
| 產(chǎn) 品 用 途 |
| YP-150I 高亮度鹵素射鏡用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來(lái) |
規 格 書(shū)
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